透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope；TEM）
| 【用途の概要】 |
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低倍率・広視野・高コントラストな電子工学系に高感度・高精細デジタルカメラを装着した透過型電子顕微鏡に電顕レベルでの三次元データの取得できる「電子線トモグラフィー」と凍結試料を観察できる「クライオトランスファーホルダー」を組み合わせたシステム |
【構 成】
| a） |
透過電子顕微鏡 H-7650 【 HITACHI 】 |
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【仕 様】 |
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分解能 |
0.2nm（格子像） |
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加速電圧 |
40-125kV |
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倍 率 |
LOW MAG |
×50～1,000（10段階） |
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HIGH MAG |
×200～600,000倍（30段階） |
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試料室 |
ユーセントリックサイドエントリーステージ |
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傾斜角度 |
±60°（最小傾斜ステップ0.5°自動連続傾斜） |
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自動画像調整機能 |
オートフォーカス |
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オートスティグマ |
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デジタルカメラ |
1,024×1,024pixel（8／16bit） |
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【仕 様】 |
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三次元再構成用コンピュータ |
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三次元再構成用ソフト（EM-IP） |
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三次元表示ソフト（EM-viewer） |
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高画質デジタルプリンター（FUJIFILM PICTROGRAPHY 4500N） |
| c） |
クライオトランスファーホルダー CT3500 Cryotrans【 Gatan 】 |
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【仕 様】 |
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冷却媒体 |
液体窒素（140ml） |
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温度範囲 |
－170～50℃ |
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